USB2.0电源概述在USB2.0系统中,主机和集线器端口都可以为其连接的USB设备提供电源,一般每个端口输出的最大电流为100mA或者500mA。其中,500mA电流的USB端口为高功率集线器端口,100mA电流的USB端口被称为低功率端口。USB2.0的电压标称值为+5V,实际上这个电压会有一-定的偏差。对于高功率集线器端口来说,该电压范围为4.75~5.25V;而对于低功率集线器端口而言,该电压范围为4.4~5.25V。USB2.0主机包含一个独立的电源管理系统,它和USB系统软件一起管理设备的挂起、恢复等USB电源事件。USB设备具有一定的电源管理能力,以相应USB系统软件发出电源操作。当USB2.0处于挂起状态时,工作在低功率模式下的USB设备仅从总线上获取500uA的电流;如果是高功率模式的USB设备且已经使用远端唤醒功能,则需要获取2.5μA的挂起电流。对于总线供电的USB2.0集线器来说,如果在配置后挂起,可从总线上获取2.5mA工作电流,并为每个下行端口分配500μA电流,剩余的电流则留给集线器本身使用;如果它未被配置而挂起,则它将作为低功率设备,顶多从总线上获取500μA的挂起电流。USB2.0设备可以采用总线供电的方式,也可以采用自供电的方式。如果采用总线供电的方式则需要考虑上行端口的供电能力,如果上行端口只能提供100mA的电流,那么USB设备更大也只能获得...
USB2.0设备速度的识别USB2.0是采用在D+和D-信号线上增加上拉电阻的方法来识别低速和全速设备。主要防水有以下三种:1.低速USB设备的D-信号线上连有1.5kΩ的上拉电阻接至3.0~3.6V电压。2.全速USB设备的D+信号线上连有1.5kQ的上拉电阻接至3.0~3.6V 电压。3.主机或者集线器的下行端口的D+和D-信号线上都连有15kΩ的下拉电阻到地。当控制器或集线器的下行端口没有与USB2.0设备连接时,其D+和D-信号线上的下拉电阻使得这两条数据线的电压都是低电平:当低速/全速设备连接USB设备以后,在D-或者D+信号线上会出现大小为15/ (15+1.5)*Vcc的电压,而D+/D-信号线上仍然保持低电平。如果这种状态持续2.5μs以上,USB2.0主机就会认为一个低速/全速设备已经连接成功。USB2.0高速设备识别:高速设备在连接起始时以全速速率与主机进行通信,以完成其配置操作,这时候需要在D+信号线上把1.5kΩ的上拉电阻接至3.0~3.6V电压。当USB2.0高速设备正常工作时,如果采用高速传输,D+信号线不需要上拉;如果采用全速传输,则D+信号线必须使用上拉电阻。所以,为识别出USB2.0设备的速度属性,需要在上拉电阻和D+信号线之间连接一个由软件控制的开关(也称为软连接功能),目前大部分的恩智浦微控制器的USB2.0外设内部已经集成了这个功能。用户只需...
wafer连接器介质耐电压测试条件的概述介质耐电压测试是检测wafer连接器抗电强度能力的试验,人们需要遵从GJB 360A- 96《电子及电器元件试验方法》。该标准中规定了试验的详细要求,包含有电压施加的持续时间、速率和其他要求。wafer针座连接器生产厂家会根据该标准去确定测试的条件、试验工具和试验方法,下面我们主要了解的是wafer连接器介质耐电压测试的条件。首先要先确定测试wafer连接器介质耐电压的环境,主要包含有温度和湿度。过高的温度会影响连接器绝缘材料的性能,过高的湿度会导致绝缘体表面存在水汽,从而影响其绝缘性能,导致测试的不准确。根据wafer针座连接器生产厂家的经验,应该将测试温度控制在25℃左右,相对湿度控制在50%左右。其次要确定试验电压和漏电流。不同用途和功能的wafer连接器具有不同的试验电压性质和大小,在试验之前要连接器是哪种电压并且给出具体的试验电压值。而漏电流是连接器正常的现象,人们需要了解漏电流值的大小,防止因电流过大影响试验的结果。如果上述条件都确定之后,就需要确定wafer连接器的检测点了。介质耐电压测试主要是测试绝缘件与绝缘件之间以及绝缘件与地之间的电压承受能力,因此在试验前wafer针座连接器生产厂家要先确定具体的检测点。等到所有的检测条件都准备好之后,就可以正式开始wafer连接器介质耐电压测试。
浅析wafer连接器介质耐电压试验wafer针座连接器厂家在设计和生产产品的时候,会根据相关要求设计结构,从而确保其使用性能。当wafer连接器生产出来之后,厂家会通过各种试验测试了解它的各方面性能,只有性能达到设计的要求时才能进行量产。在wafer连接器众多的试验测试中,介质耐电压试验是比较常见又重要的试验之一。介质耐电压检验又称抗电强度试验,人们在wafer连接器相互绝缘部件之间或者绝缘部与地之间施加一定强度的高电压,然后观察其在规定时间内能否承受得住由于开关、浪涌以及其他电流现象导致的过电位能力,从而达到试验目的以评定元件绝缘或绝缘间隙是否配合,确定元件在额定电压下能安全工作。根据wafer针座连接器厂家的试验测试经验,连接器的介电耐压试验应在连接触点之间和触点与外壳之间进行。wafer连接器介质耐电压试验结果是否准确,跟各点之间的测试位置有关。在进行wafer连接器介质耐电压试验之前,人们应该先确定各测试点的具体位置,确保试验尽可能在相同的条件下进行。wafer针座连接器厂家为了提高试验检测的准确性,还会对连接器进行清洁,防止绝缘体上混有灰尘颗粒等杂质,影响检测结果。一般来讲,厂家会使用气喷枪对wafer连接器进行清洁,这种方式不会破坏它内部的结构,但要注意控制风力的大小,防止将连接器吹飞。
USB2.0通信协议概述USB2.0通信协议是一个主从关系的协议, 多个USB设备通过USB总线及集线器(Hub) 连接到一个USB主机上,形成个星状网络。在这个网络中,USB主机管理和配置接入的每一个设备,从逻辑层面来说,每个加入的USB设备(除集线器外)都只能看到USB2.0主机,其他的设备都不可见,所以相互之间不能直接通信。USB2.0主机会给每个接入的设备分配一个唯一 的地址,发送给USB设备的数据会在总线上广播,而USB设备会对总线上的数据进行过滤,使其只接受发送给自己的数据。一个USB2.0主机更多只能分配127个地址(1~127),并且只能连接5层集线器,需要注意的是,第5层Hub只能接U5B设备,不能再接Hub。USB主机和USB设备间的通信是通过管道。 (Pipe) 进行的。在USB2.0通信协议中,管道是一个逻辑概念, 其在USB主机这一端实际上就是一组缓冲区,用于管道中数据的收发;而在USB设备这一端, 管道对应着一个特定的端点(Endpoint,ENDP)。每一个端点都是一个二元组。USB设备地址、端点索引和端点方向的组合可以唯一确定USB主机和USB设备间的通信。在USB2.0通信协议中,在一个管道中传输的基本单元就是包(Packet),它由多个逻辑0和1 (也就是差分信号“0' 和'1' )构成。多个包构成了一个事务(Transa...
如何识别不同工作速度的USB3.0设备USB3.0设备在开发之前就已经确定其工作模式:低速、全速还是高速。低速和全速设备在工作过程中无法改变其速度模式,而高速设备在高速握手协议失败后会工作在全速模式下,这样使得一个高速设备即使连接到一个全速的USB主机也能正常工作。全速设备在其 D+线上有一个上拉电阻Rpu;而低速设备的上拉电阻Rpu在D-上。USB3.0设备上的上拉电阻Rpu的阻值是1.5kΩ±5%,主机或hub的端口上的下拉电阻Rpd是15kΩ±5%。当USB3.0主机与全速或者低速设备连接后,因为上拉电阻的存在,D+或D-的电压会上拉到3V左右。USB主机根据哪根差分线上有上拉来判断接入USB3.0设备的类型,如果D+上有上拉,主机就把设备识别为全速设备;如果D-上有上拉,主机就把设备识别为低速设备。在高速模式下,不管是USB3.0设备还是USB主机,在D+和D-数据线上都要有一个45Ω等效对地电阻。高速设备在初始连接时,是以全速模式连接到主机的,即高速设备的D+上挂载了上拉电阻,主机检测到全速模式的设备连接后,会对该设备进行复位(RESET)。工作在全速模式下的 USB3.0设备收到复位信号后,会主动发起高速模式握手协议进行速度识别。如果主机支持高速设备,会和该设备交互完成高速模式握手协议,此时USB3.0主机和设备都工作在高速模式下;如果主机不支持高速...
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