wafer连接器介质耐电压测试条件的概述

2020-08-21

wafer连接器介质耐电压测试条件的概述

介质耐电压测试是检测wafer连接器抗电强度能力的试验,人们需要遵从GJB 360A- 96《电子及电器元件试验方法》。该标准中规定了试验的详细要求,包含有电压施加的持续时间、速率和其他要求。wafer针座连接器生产厂家会根据该标准去确定测试的条件、试验工具和试验方法,下面我们主要了解的是wafer连接器介质耐电压测试的条件。

wafer连接器介质耐电压测试条件的概述

首先要先确定测试wafer连接器介质耐电压的环境,主要包含有温度和湿度。过高的温度会影响连接器绝缘材料的性能,过高的湿度会导致绝缘体表面存在水汽,从而影响其绝缘性能,导致测试的不准确。根据wafer针座连接器生产厂家的经验,应该将测试温度控制在25℃左右,相对湿度控制在50%左右。

其次要确定试验电压和漏电流。不同用途和功能的wafer连接器具有不同的试验电压性质和大小,在试验之前要连接器是哪种电压并且给出具体的试验电压值。而漏电流是连接器正常的现象,人们需要了解漏电流值的大小,防止因电流过大影响试验的结果。

如果上述条件都确定之后,就需要确定wafer连接器的检测点了。介质耐电压测试主要是测试绝缘件与绝缘件之间以及绝缘件与地之间的电压承受能力,因此在试验前wafer针座连接器生产厂家要先确定具体的检测点。等到所有的检测条件都准备好之后,就可以正式开始wafer连接器介质耐电压测试。

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